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X線回折

X線を照射して試料を分析する技術とサービスのご紹介

特長

X線回折装置

試料にX線を照射したときに生じる回折X線を測定して、物質を同定したり、構造を評価します。
また、残留応力の測定を行います。

測定サービス

X線回折装置

結晶にX線を照射したとき、ブラッグ条件を満足する方向で回折X線が観測されます。回折X線の方向と強度はその結晶固有のものなので、回折図形を測定することで、結晶を評価することができます。
また、結晶の格子面間隔は残留応力の大きさに比例して伸び縮みをします。格子面間隔を測定することで、残留応力を算出します。

測定方法 回折図形:2θ / θ測定、薄膜測定、In-Plane測定
残留応力測定:側傾法、並傾法
サンプルサイズ 約75mm×75mm、厚さ5mm以内( 2θ / θ測定、薄膜測定)
約20mm×20mm、厚さ5mm以内(In-Plane測定、残留応力測定)
測定例

TiO2膜の比較(2θ / θ測定)

サンプルAは晶質で、サンプルBは非晶質です。

料金 / 1測定
  • 回折図形測定:¥10,000~(税抜)
  • 残留応力測定:¥20,000~(税抜)

お電話でのお問い合わせも
受け付けております03-3759-9325(代表 平日9:00~17:00)

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